一种集成电路测试方法及系统

专利申请号：CN202310206780.4

公 开 号：CN116203393A

发 明 人：徐振 彭安斋 

代 理 人：龚春娟

代理机构：北京一诺通成知识产权代理事务所(普通合伙)

专利类型：发明专利

申 请 日：20230602

公 开 日：20230227

专利主分类号：G01R31/28

关 键 词：指令测试 原始测试 指令类型 指令 集成电路测试 解码器 测试事务 配置资源 下位机 解析 控制集成电路 资源获取方式 并行测试 测试指令 发送指令 分时共享 设备测试 生成指令 一机多控 硬件设备 预先配置 指令操作 指令匹配 事务包 拦截 协同 测试 

摘      要：本发明公开了一种集成电路测试方法，包括：预先配置指令测试模板，所述指令测试模板中具备指令匹配方式、指令类型以及指令操作资源获取方式；拦截原始测试指令，并对所述原始测试指令进行解析，确定所述原始测试指令所对应的指令类型和配置资源；根据确定的指令类型，选择对应的指令测试模板，并根据该指令测试模板和配置资源，生成指令测试事务包；发送指令测试事务包至集成电路测试下位机侧的解码器上，促使解码器解析所述指令测试事务包，获取测试指令并控制集成电路测试下位机进行指令测试。本发明能够在不修改原有各类设备测试指令的情况下，协同实现对昂贵硬件的硬件设备分时共享，从而实现一机多控，一机多任务并行测试的效果。