一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备

专利申请号：CN202310044979.1

公 开 号：CN115808612B

发 明 人：请求不公布姓名 

代 理 人：北京知迪知识产权代理有限公司王胜利

代理机构：北京知迪知识产权代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20230602

公 开 日：20230130

专利主分类号：G01R31/28

关 键 词：单元测试模块 测试 数据分析处理模块 寄存器读写模块 自动化测试模块 芯片物理 仪器配置 测试数据分析 单元化管理 图形化界面 有效地实现 测试计划 测试系统 测试周期 电子设备 人工测试 芯片测试 整体芯片 研发 自动化 灵活 引入 申请 探索 开发 学习 

摘      要：本申请公开一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备，涉及芯片测试技术领域。系统包括：仪器配置模块、寄存器读写模块、单元测试模块、数据分析处理模块和自动化测试模块；所述仪器配置模块分别和所述单元测试模块和所述寄存器读写模块连接；所述单元测试模块和所述数据分析处理模块连接；所述自动化测试模块和所述单元测试模块连接，可以减少了复杂繁琐的人工测试可能引入的各种问题，实现了芯片物理IP的各项测试，测试也变得更加快速和灵活，极大缩短了测试周期，加快整体芯片上市时间，通过图形化界面减少测试人员学习成本，支持研发测试计划导入，测试用例单元化管理及自动化执行，低代码用例开发，更加有效地实现测试数据分析与探索。