一种等离子热电子测量系统及测量方法

专利申请号：CN202111389678.X

公 开 号：CN114114375B

发 明 人：周建 张轶波 张洁 任磊磊 李波 梁绍勇 

代 理 人：核工业专利中心高安娜

代理机构：核工业专利中心

专利类型：发明专利

申 请 日：20230613

公 开 日：20211122

专利主分类号：G01T1/24

关 键 词：热电子 测量 探测器 测量系统 碲化镉 等离子 脉冲 等离子体 采集 统计分析模块 信号处理模块 等离子放电 数据服务器 电子能量 分布曲线 分离处理 脉冲数据 实时探测 运行效率 能量谱 机箱 并行 堆积 放大 分析 

摘      要：本发明属于等离子热电子测量技术，具体涉及一种等离子热电子测量系统及测量方法。系统包括数据服务器、采集显示、VME机箱、脉冲数据统计分析模块、FPGA计数器、探测器信号处理模块、碲化镉热电子探测器；测量方法包括采用碲化镉热电子探测器进行等离子体热电子的测量、对探测器得到信号进行放大和反堆积处理、进行热电子脉冲的数据并行计数和采集、进行热电子脉冲的分离处理、得到等离子放电过程中热电子能量谱分布曲线。本系统及方法实现了热电子测量系统的电子能量分布的实时探测和分析，碲化镉器完成了热电子的测量，提高了热电子测量系统的测量精度和运行效率。