一种用于测试磁芯宽频饱和程度的系统及方法

专利申请号：CN202211462619.5

公 开 号：CN116265976A

发 明 人：王健 刘俭 殷小东 刘俊杰 张军 周峰 雷民 段大鹏 赵成 迟源 李明 汪根荣 吴平 

代 理 人：北京工信联合知识产权代理有限公司姜丽楼

代理机构：北京工信联合知识产权代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20230620

公 开 日：20221121

专利主分类号：G01R33/12

关 键 词：测磁 二次侧电压信号 计算处理单元 饱和 波形分析 感应电流 信号参数 磁芯 宽频 测量 任意波形发生器 一次侧电流信号 精密采样电阻 精密测量技术 功率放大器 一次侧绕组 测试 谐波参数 宽频带 采样 次侧 磁场 放大 转化 

摘      要：本发明公开了一种用于测试磁芯宽频饱和程度的系统及方法，属于精密测量技术领域。本发明，包括：所述波形分析计算处理单元根据待测磁芯参数，确定输入待测磁芯的信号参数，所述任意波形发生器根据所述信号参数，发出输入信号，所述输入信号经功率放大器放大后输入至待测磁芯的一次侧绕组，在待测磁芯中建立磁场后，所述精密采样电阻，对所述待测磁芯二次侧的感应电流进行测量，并将测量的感应电流转化为二次侧电压信号，所述波形分析计算处理单元，对待测磁芯的一次侧电流信号和所述二次侧电压信号进行A/D采样，并在采样完成后，根据谐波参数确定待测磁芯的宽频饱和程度。本发明实现了对磁芯在宽频带下饱和程度的定量测试。