一种产品测试方法、装置、设备及存储介质

专利申请号：CN202310276248.X

公 开 号：CN116303036A

发 明 人：吴书旭 吴斌 倪巍梨 杨忠 章芸芸 佟乐 黄林弟 

代 理 人：杨小雷

代理机构：北京三聚阳光知识产权代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20230623

公 开 日：20230315

专利主分类号：G06F11/36

关 键 词：缺陷数据库 测试 缺陷数据 待测试产品 测试过程 测试数据 产品测试 任务指令 测试数据获取 缺陷管理过程 测试报告 测试效率 存储介质 方案发送 接收测试 流程节点 缺陷管理 数据生成 发现 更新 

摘      要：本发明公开了一种产品测试方法、装置、设备及存储介质，该产品测试方法包括：接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库。本发明实施例能够根据缺陷数据库获取测试过程中发现的缺陷的解决方案，方便测试人员得到结论，提高测试效率。