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一种放电管可靠性测试电路、装置及方法

一种放电管可靠性测试电路、装置及方法

专利申请号:CN202310265549.2

公 开 号:CN116338389A

发 明 人:韩聪颖 宿志国 张明志 白英杰 李茜钰 孟天旭 

代 理 人:北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙)刘彦平

代理机构:北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙)

专利类型:发明专利

申 请 日:20230627

公 开 日:20230313

专利主分类号:G01R31/12

关 键 词:测试回路 时间控制电路 被测器件 升压调压电路 上位机 测试电路 整流电路 导通 电源 可靠性测试电路 整流电路连接 可靠性评估 测试过程 绝缘性能 绝缘状态 连续测试 放电管 评估 

摘      要:本发明公开了一种放电管可靠性测试电路、装置及方法,所述测试电路包括电源、升压调压电路、整流电路、时间控制电路、一个或多个测试回路以及上位机,所述电源与升压调压电路连接,所述升压调压电路与整流电路连接、所述整流电路与时间控制电路连接,所述时间控制电路与一个或多个测试回路连接,所述一个或多个测试回路均与上位机连接,其中,所述时间控制电路用于控制一个或多个测试回路中被测器件在连续测试过程中的间隙时间;所述上位机用于获取一个或多个测试回路中被测器件的导通次数和绝缘状态,并对被测器件进行可靠性评估。上述测试电路能够通过获取累计导通次数和绝缘性能对被测器件的可靠性进行评估,使得测试过程更加方便、高效。

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