一种应用测试星体表面尘埃对敏感表面粘附特性的装置的方法

专利申请号：CN202111206849.0

公 开 号：CN113945496B

发 明 人：王鹢 庄建宏 李存惠 赵振栋 王富刚 张海燕 全小平 

代 理 人：北京之于行知识产权代理有限公司吕晓蓉

代理机构：北京之于行知识产权代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20230623

公 开 日：20211015

专利主分类号：G01N15/04

关 键 词：测试舱体 尘埃颗粒 星体表面 转轴 测试单元 滑落 测试技术领域 微型化 测试过程 空间环境 敏感表面 应用测试 粘附特性 自然状态 测试舱 轻量化 推进剂 下表面 钝化 粘附 黏附 沉积 排气 申请 转动 着陆 测量 测试 

摘      要：本申请涉及空间环境测试技术领域，具体而言，涉及一种应用测试星体表面尘埃对敏感表面粘附特性的装置的方法，该装置包括测试舱体、转轴以及多个测试单元，转轴设置在测试舱体的下方，多个测试单元设置在测试舱体的内部，转动转轴，测试舱体会同时进行旋转。本申请实现了测试的微型化和轻量化，测试过程中，不会改变自然状态下表面的粘附力，可以获得星体表面尘埃颗粒在不同材料表面的最小滑落角，以及在不同角度下发生滑落星体表面尘埃颗粒的占比，计算出尘埃颗粒的平均黏附力，还可以同时获得测量着陆过程、推进剂钝化以及排气等过程中激起的月尘沉积质量。