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一种TOFD检测外筒内表面缺陷的探头参数确定方法
专利申请号：CN202310666245.7
公 开 号：CN116381052A
代 理 人：沈强
代理机构：绵阳山之南专利代理事务所(普通合伙)
专利类型：发明专利
申 请 日：20230704
公 开 日：20230607
专利主分类号：G01N29/04
关 键 词：探头参数 外筒内表面 参数状态 典型缺陷 仿真技术 分布规律 分布形式 工件结构 工艺仿真 模拟分析 模拟缺陷 缺陷检测 缺陷信号 检测 探头 壁厚 声场 试块 外筒 反馈 配置 研究
摘 要：本发明提供了一种TOFD检测外筒内表面缺陷的探头参数确定方法，该方案采用CIVA仿真技术对带有模拟缺陷的不同壁厚的外筒模型试块进行TOFD检测工艺仿真研究，能够根据工件结构特点、典型缺陷及分布形式，采用不同探头及检测工艺参数，模拟分析工件中不同参数状态下的声场分布规律及缺陷信号反馈情况，确定出适合于不同缺陷检测的最佳检测工艺参数和探头参数配置。
