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单光子探测器、脉冲计数系统及方法
专利申请号：CN202210010101.1
公 开 号：CN116448257A
代 理 人：余明伟
代理机构：上海光华专利事务所(普通合伙)
专利类型：发明专利
申 请 日：20230718
公 开 日：20220106
专利主分类号：G01J11/00
关 键 词：超导纳米线 脉冲 单光子探测器 计数系统 降噪 电学性能参数 噪声抵消电路 计数器 系统复杂度 信号发生器 脉冲信号 输出信号 提升系统 外部光源 不相交 信噪比 探测
摘 要：本发明提供一种单光子探测器、脉冲计数系统及方法，单光子探测器至少包括：不相交的第一超导纳米线及第二超导纳米线，探测外部光源并产生脉冲信号；其中，第一超导纳米线与第二超导纳米线的尺寸及电学性能参数相同。脉冲计数系统包括单光子探测器，还包括信号发生器、噪声抵消电路及计数器。本发明的脉冲计数系统及方法中，采用自差分降噪的方法为输出信号降噪，使得脉冲的信噪比得到了有效的提升，从而降低了系统复杂度，提升系统稳定性，使系统可以高速地工作。
