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ATE测试板及基于ATE测试板的电子元器件设置方法
专利申请号：CN201811052715.6
公 开 号：CN109001617B
代 理 人：上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙)郭桂峰
代理机构：上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙)
专利类型：发明专利
申 请 日：20230801
公 开 日：20180910
专利主分类号：G01R31/28
关 键 词：电子元器件 凹部 电气连接 中间层 顶层 高精度控制 测试系统 从上至下 电路结构 高速信号 信号链路 延伸设置 依次设置 测试板 插损 阻抗 申请 优化 改进 保证
摘 要：本发明公开了一种ATE测试板，包括：从上至下依次设置的顶层，中间层，以及底层；凹部，其从所述底层向所述中间层延伸设置；电子元器件，其设于所述凹部内；所述顶层与所述底层通过所述电子元器件电气连接。因此，同本申请的在测试板的底部开设一个凹部，并将电子元器件放置在凹槽内，实现电气连接，这种电路结构的改进，缩短了过孔长度，实现信号链路阻抗的高精度控制，优化了插损回损，保证测试系统高速信号的完整性。
