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一种基于知识图谱的FPGA代码缺陷检测方法
专利申请号：CN202310297407.4
公 开 号：CN116595185A
发 明 人：李东方 李海浩 苏明月 王志昊 沈炜 杨光 李佳旭
代 理 人：王雪芬
代理机构：中国兵器工业集团公司专利中心
专利类型：发明专利
申 请 日：20230815
公 开 日：20230324
专利主分类号：G06F16/36
关 键 词：图谱 代码缺陷检测 检出率 测试 代码缺陷信息 缺陷检测能力 关联关系 模块功能 缺陷知识 软件类型 先验知识 传统的 解释性 可视化 图结构 构建 检索 存储 验证 违反
摘 要：本发明涉及一种基于知识图谱的FPGA代码缺陷检测方法，属于FPGA验证技术领域。相比于传统的FPFA代码缺陷检测方法，本发明的方法具有以下的优势：1、增加代码缺陷检出率。利用被测代码的软件类型、模块功能、违反规则等信息即可根据先验知识，通过知识图谱自动为测试人员推荐相应的可疑缺陷，可以提高测试人员的缺陷检测能力，从而增加代码缺陷的检出率。2、解释性强，可视化程度高。构建的FPGA代码缺陷知识图谱以图结构的形式存储FPGA代码缺陷信息，测试人员在检索相关缺陷时，对其中的关联关系一目了然。
