一种激光显示质量检测分析方法及系统

专利申请号：CN202310480440.0

公 开 号：CN116593128A

发 明 人：刘勇 张军 

代 理 人：王晓青

代理机构：南京九致知识产权代理事务所(普通合伙)

专利类型：发明专利

申 请 日：20230815

公 开 日：20230428

专利主分类号：G01M11/02

关 键 词：激光显示设备 质量检测结果 质量评估结果 稳定性评估结果 测试图像 激光显示 质量检测 获知 测试图像显示 质量检测分析 质量检测技术 激光设备 技术效果 检测结果 缺陷定位 时间窗口 显示设备 显示效果 检测 集合 直观 申请 

摘      要：本申请涉及质量检测技术领域，提供一种激光显示质量检测分析方法及系统。通过获取对激光设备进行激光显示质量检测的多个测试图像，在多个测试图像显示过程中对多个检测时间窗口进行多点法检测，获得多个检测结果集合并进一步计算获得平均显示质量评估结果，基于多个显示质量评估结果获得显示稳定性评估结果，获得多个测试图像的平均显示稳定性评估结果和多个平均显示质量评估结果，生成显示质量检测结果。解决现有技术中存在基于显示质量检测结果无法准确获知激光显示设备显示质量以及进行显示设备缺陷定位的技术问题，实现提高激光显示设备质量检测的精确性，基于显示质量检测结果可直观获知激光显示设备整体和局部的显示效果的技术效果。