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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
专利申请号:CN202310072882.1
公 开 号:CN116611474A
代 理 人:北京三友知识产权代理有限公司师玮;王小东
代理机构:北京三友知识产权代理有限公司
专利类型:发明专利
申 请 日:20230818
公 开 日:20230207
专利主分类号:G06N3/0464
关 键 词:卷积神经网络 检测系统 断层摄影数据 异常检测系统 自动检测系统 存储器占用 全分辨率 时间问题 学习过程 自动特征 卷积 紧凑 推断 图像 缓解 网络 分析
摘 要:本发明提供了一种卷积神经网络(CNN)(202),在用于分析由X射线成像系统(100)提供的图像(208)的自动特征和/或异常检测系统(204)中采用该卷积神经网络。自动检测系统(204)以减少所需的全分辨率CNN卷积层(212)的数量的方式操作,以便加快检测系统(204)的网络推断和学习过程。为此,检测系统(204)利用断层摄影数据(206)的更紧凑表示作为输入,以缓解现有技术X射线系统中的CNN存储器占用空间和计算时间问题。