一种从已知数据序列中探查目标曲线的方法、系统及介质

专利申请号：CN202010037261.6

公 开 号：CN111191633B

发 明 人：李明 胡德文 

代 理 人：湖南兆弘专利事务所(普通合伙)谭武艺

代理机构：湖南兆弘专利事务所(普通合伙)

专利类型：发明专利

申 请 日：20230822

公 开 日：20200114

专利主分类号：G06F18/2415

关 键 词：目标曲线 置乱 副本 已知数据 探查 原始数据序列 分布概率 密度函数 曲线拟合 数据采样 数据排列 数据序列 采样点 拟合 统计 

摘      要：本发明公开了一种从已知数据序列中探查目标曲线的方法、系统及介质，本发明通过对已知数据序列s0多次置乱获得足够多的满足“不含目标曲线条件的置乱副本，原始数据序列置乱之后的副本与原始数据序列拥有完全相同的数据采样点，但采样点的排列顺序随机，所以每个置乱副本的数据排列都不符合目标曲线波形，这些置乱副本都满足“不含目标曲线的条件，而计算和统计这些副本的拟合指标值，即可以得到“数据序列中不含目标曲线条件下曲线拟合指标值分布概率密度函数的估计，从而能够实现在得到的已知数据序列中探查目标曲线，具有客观性好、准确性高、操作方法简便，步骤简单明了，易于实现的优点。