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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
表面粗糙度测量系统
专利申请号：CN202180087450.7
公 开 号：CN116685827A
发 明 人：S·阿卜杜勒阿齐兹 K·诺兰 J·范德贝尔特 J·赖尔
代 理 人：北京同立钧成知识产权代理有限公司陈启天;黄健
代理机构：北京同立钧成知识产权代理有限公司
专利类型：发明专利
申 请 日：20230901
公 开 日：20210113
专利主分类号：G01B11/06
关 键 词：制造过程 表面粗糙度测量 机器学习算法 质量控制步骤 质量控制程序 表面粗糙度 成像系统 光传感器 相干光源 制造产品 测试 监测 制造 检查
摘 要：通过制造过程大量生产产品是已知的。典型地，在制造过程中使用质量控制步骤来监测所制造产品的质量。然而，制造中的质量控制程序通常是劳动密集型的。技术人员或其它人员必须检查产品以及进行任何必要的测试。本公开提供了一种表面粗糙度测量系统和方法，用于利用成像系统、相干光源、光传感器和若干经训练的机器学习算法来确定产品的表面粗糙度。
