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一种测试电路

一种测试电路

专利申请号:CN202210203941.X

公 开 号:CN116736092A

发 明 人:廖春和 蔡燕飞 王俊 刘旭 王代平 

代 理 人:樊文娜;刘荣娟

代理机构:北京市一法律师事务所

专利类型:发明专利

申 请 日:20230912

公 开 日:20220302

专利主分类号:G01R31/3185

关 键 词:负载单元 触发器 负载模块 控制电路 延迟处理 延迟 时钟信号输出 时钟延迟电路 数据测试信号 数据延迟电路 测试电路 时钟测试 数据信号 时钟端 数据端 申请 测试 输出 

摘      要:本申请提供一种测试电路,包括:数据延迟电路,用于对接收的数据测试信号进行延迟处理,并将延迟后的数据信号输出至所述待测触发器的数据端;第一负载模块,包括第一负载单元,所述第一负载单元包括第一控制电路和第一负载;时钟延迟电路,用于对接收的时钟测试信号进行延迟处理,并将延迟后的时钟信号输出至所述待测触发器的时钟端;第二负载模块,包括第二负载单元,所述第二负载单元包括第二控制电路和第二负载。本申请技术方案可以提高对触发器的建立时间和保持时间的测试精度。

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