超导电路与CMOS电路之间的跨温区互联系统、超导测试电路

专利申请号：CN202210168023.8

公 开 号：CN114553210B

发 明 人：原蒲升 李凌云 王永良 汪书娜 余慧勤 尤立星 

代 理 人：上海泰博知识产权代理有限公司钱文斌

代理机构：上海泰博知识产权代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20230908

公 开 日：20220223

专利主分类号：H03K19/0175

关 键 词：超导电路 衰减模块 温区 放大模块 互联系统 传输线 测试电路 超导逻辑 逻辑电平 输出端 输入端 链路 电平转化 动态功能 信号传输 芯片 测试 转化 保证 

摘      要：本发明提供一种超导电路与CMOS电路之间的跨温区互联系统、超导测试电路，超导测试电路包括CMOS电路与跨温区互联系统；跨温区互联系统包括衰减模块、放大模块和传输线链路；所述衰减模块的输入端用于连接CMOS电路，所述衰减模块的输出端用于连接所述超导电路；所述衰减模块用于将CMOS电路的CMOS逻辑电平转化处理为超导逻辑电平；所述放大模块的输入端用于连接所述超导电路，所述衰减模块的输出端用于连接所述CMOS电路；所述放大模块用于将超导电路的超导逻辑电平转化处理为CMOS逻辑电平；所述传输线链路用于实现超导电路与CMOS电路之间跨温区的信号传输。本发明能保证测试中超导芯片的高速、动态功能实现。