一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置及方法

专利申请号：CN202310808547.3

公 开 号：CN116844442A

发 明 人：欧玉发 杨林 

代 理 人：成都睿道专利代理事务所(普通合伙)胡可

代理机构：成都睿道专利代理事务所(普通合伙)

专利类型：发明专利

申 请 日：20231003

公 开 日：20230703

专利主分类号：G09G3/00

关 键 词：输出端口 测试模块 控制卡 压屏 测试启动信号 测试失败信号 测试通过信号 测试状态 输入端口 测试技术领域 测试可靠性 测试端口 测试系统 测试效率 测试装置 电平识别 开关电路 指示电路 输出端 输入端 

摘      要：本发明提供了一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置及方法，涉及压屏测试技术领域，其目的是提升压屏测试效率和测试系统的稳定性，包括多个TP测试模块和IO控制卡；TP测试模块的四个测试端口分别为测试状态输出端口、测试通过信号输出端口、测试失败信号输出端口和测试启动信号输入端口；TP测试模块的测试状态输出端口、测试通过信号输出端口和测试失败信号输出端口分别通过一个指示电路连接到所述IO控制卡的一个输入端；测试启动信号输入端口通过开关电路连接到IO控制卡的输出端。本发明具有测试可靠性高、效率高的优点。