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环形振荡器及测试方法

环形振荡器及测试方法

专利申请号:CN202210273250.7

公 开 号:CN116800227A

发 明 人:陈婵 邱安平 

代 理 人:北京律智知识产权代理有限公司王辉

代理机构:北京律智知识产权代理有限公司

专利类型:发明专利

申 请 日:20230922

公 开 日:20220318

专利主分类号:H03K3/03

关 键 词:逻辑门 开关电路 与非门 环形振荡器 接地 或非门 测试 通断 配置 接收测试信号 开关电路配置 可靠性测试 输出端连接 使用寿命 依次连接 预测器件 供电端 输入端 

摘      要:本公开提供了一种环形振荡器及测试方法,属于可靠性测试技术领域。该环形振荡器包括第一逻辑门、第二逻辑门、开关电路。其中,第一逻辑门配置为接收测试信号。第二逻辑门包括依次连接的第一与非门和第一或非门。其中,第二逻辑门的输出端连接第一逻辑门的输入端,且第二逻辑门配置为接收第一逻辑门的输入以形成回路。开关电路包括第一开关电路和第二开关电路。第一开关电路可以配置为控制第一与非门的供电端和第一或非门的接地端的通断。第二开关电路配置为控制第一与非门的接地端的通断。在对器件进行NBTI测试时,由于与非门和或非门对器件的NBTI效应更为明显,这样能够提高对器件NBTI效应测试的准确性,从而能够准确的预测器件的使用寿命。

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