用于测量光学系统的光学特性的装置和方法

专利申请号：CN202280012346.6

公 开 号：CN116802469A

发 明 人：G·利斯克 S·萨斯宁 A·鲁普雷希特 

代 理 人：广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙)郑永泉;王力芳

代理机构：广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙)

专利类型：发明专利

申 请 日：20230922

公 开 日：20220110

专利主分类号：G01M11/02

关 键 词：二维图像传感器 待成像物体 光学系统 测量光学系统 彼此分离 光束路径 光学特性 焦距 支架 成像 

摘      要：本发明涉及一种用于测量光学系统(12；112；212)的光学特性的装置，包括待成像物体(16)，所述待成像物体具有布置在一个平面内且彼此分离的多个结构(18)、二维图像传感器(32)、具有焦距f的聚光光学器件(30)，其中所述二维图像传感器(32)与所述聚光光学器件(30)的距离a为0.9·f≤a≤1.1·f。用于所述光学系统(12；112；212)的支架(13)被布置为，使得所述光学系统位于所述待成像物体(16)与所述聚光光学器件(30)之间的光束路径中。根据本发明，所述二维图像传感器(30)和所述聚光光学器件(30)被设计成，使得所述多个结构(18)能被所述光学系统(12；112；212)和所述聚光光学器件(30)同时成像到所述二维图像传感器(32)上。