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一种RISC-V向量指令集功能验证的测试用例生成系统及方法

一种RISC-V向量指令集功能验证的测试用例生成系统及方法

专利申请号:CN202210546361.0

公 开 号:CN117130894A

发 明 人:王冬升 何益百 张拥军 张光达 黄安文 万众 徐叶茂 顾凯 

代 理 人:徐国文

代理机构:北京安博达知识产权代理有限公司

专利类型:发明专利

申 请 日:20231128

公 开 日:20220518

专利主分类号:G06F11/36

关 键 词:数组对象 测试参数 向量指令 源操作 参考模型模块 测试用例生成 场景构建 发送 验证 处理器功能 有效地减少 测试 功能验证 开发周期 控制模块 芯片设计 应用场景 多类型 生成源 完备性 拼接 指令 保证 开发 

摘      要:本发明涉及指令级验证技术领域,具体提供了一种RISC‑V向量指令集功能验证的测试用例生成系统及方法,包括:测试用例生成控制模块设置向量指令测试参数,将测试参数发送至场景构建模块,将接收的源操作数组对象发送至参考模型模块,并将接收的源操作数组对象和接收的目的操作数组对象拼接,得到测试用例;场景构建模块基于测试参数生成源操作数组对象;参考模型模块,用于基于源操作数组对象生成目的操作数组对象。本发明提供的技术方案大大提高了RISC‑V向量指令集测试用例的开发速度,多类型的应用场景进一步保证了处理器功能验证的完备性,从而有效地减少了芯片设计的开发周期。

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