缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质

专利申请号：CN201910615856.2

公 开 号：CN110349145B

发 明 人：郭凯 李小龙 王锐拓 刘伟星 秦纬 彭宽军 

代 理 人：北京风雅颂专利代理有限公司李莎

代理机构：北京风雅颂专利代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20220816

公 开 日：20190709

专利主分类号：G06T7/00

关 键 词：类别信息 缺陷图像 标记位置信息 目标位置信息 测试样本 神经网络 训练样本 误差反向传播 存储介质 电子设备 技术效果 计算资源 缺陷检测 人工成本 训练分类 检测 截取 准确率 复检 算法 标签 消耗 输出 分类 

摘      要：本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质，包括：对训练样本上的缺陷进行标记，得到包含有标记位置信息和类别信息的标签；根据所述缺陷的标记位置信息确定所述缺陷在所述训练样本上的目标位置信息，并根据所述缺陷的目标位置信息截取缺陷图像；采用所述缺陷图像和所述缺陷的类别信息，并利用误差反向传播算法，训练分类神经网络；将测试样本的缺陷图像输入到训练后的所述分类神经网络中，以输出所述测试样本上的缺陷的类别信息。本发明可以达到更快的检测速度、更低的计算资源消耗和更高的检测准确率的技术效果，甚至可以省去人工复检，从而减少人工成本。