用于测量地层密度值的测量装置及其测量方法

专利申请号：CN201811282351.0

公 开 号：CN111119871B

发 明 人：张坚锋 张中伟 李翠 杜海洋 韩春田 马海 肖红兵 鲁超 

代 理 人：刘华联

代理机构：北京聿华联合知识产权代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20231226

公 开 日：20181031

专利主分类号：E21B49/00

关 键 词：偏心流道 伽马射线 钻铤 电路控制系统 信号传输系统 密度探测器 测量地层 承压外壳 电路骨架 短节 地层 放射性元素 嵌入式安装 测量装置 信号参数 轴向贯穿 轴向延伸 圆筒状 散射 下端 测量 传输 发射 

摘      要：本发明提供了一种用于测量地层密度值的测量装置，包括：钻铤，所述钻铤的内部设有轴向贯穿的偏心流道，及与所述偏心流道相对的沿轴向延伸的U型槽；设置在所述偏心流道中且构造成圆柱形的电路骨架，在所述电路骨架的下部设有电路控制系统；设置在所述钻铤内的密度仓源，在所述密度仓源内放置有放射性元素，且以固定角度向周围地层发射伽马射线；嵌入式安装在所述U型槽内且构造成圆筒状的承压外壳，在所述承压外壳内设有用于接收经地层散射的伽马射线的密度探测器短节，在所述密度探测器短节的下端设有用于传输所测得的信号参数的信号传输系统，所述信号传输系统与所述电路控制系统相连。本发明还提供了一种测量地层密度值的测量方法。