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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
专利申请号:CN202311625089.6
公 开 号:CN117629078A
代 理 人:赵兴华
代理机构:北京高沃律师事务所
专利类型:发明专利
申 请 日:20240301
公 开 日:20231130
专利主分类号:G01B11/02
关 键 词:折光装置 入射 偏振光 偏振分光镜 双凸透镜 反射光 探测器装置 侧面 光栅 衍射光束 精密位移传感器 精密位移测量 抗环境干扰 汇聚 光路结构 光学结构 位移测量 翼型 激光
摘 要:本发明公开一种翼型光学结构的精密位移传感器,涉及精密位移测量领域,包括:第一折光装置和第二折光装置分别位于第一偏振分光镜的第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面;激光被第一偏振分光镜分为第一偏振光和第二偏振光;第一偏振光经过第一折光装置入射双凸透镜,经双凸透镜汇聚入射光栅,得到的+1级衍射光束经第一折光装置和第一偏振分光镜后得到第一反射光;第一反射光入射至探测器装置;第二偏振光经第二折光装置入射双凸透镜,经双凸透镜汇聚入射光栅,得到的‑1级衍射光束经第二折光装置和第一偏振分光镜后得到第二反射光;第二反射光入射至探测器装置;探测器装置实现位移测量。本发明提高了光路结构抗环境干扰的能力。