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一种继电器寿命测试方法及装置

一种继电器寿命测试方法及装置

专利申请号:CN202410062358.0

公 开 号:CN117872120A

发 明 人:李琼 舒太杰 

代 理 人:刘泽正

代理机构:重庆百润洪知识产权代理有限公司

专利类型:发明专利

申 请 日:20240412

公 开 日:20240116

专利主分类号:G01R31/327

关 键 词:继电器寿命 继电器 继电器测试电路 继电器参数 继电器测试 测试方法及装置 继电器技术 数据准确性 测试需求 产品设计 价值信息 历史数据 生产流程 异常数据 预测模型 预测数据 预测 参考 改进 生产 

摘      要:本发明公开了一种继电器寿命测试方法及装置,涉及继电器技术领域,包括获取继电器参数信息,根据继电器参数信息,基于继电器寿命测试需求,获取继电器测试电路信息,根据继电器测试电路信息,获取继电器测试数据。本发明通过继电器参数信息,获取继电器测试电路信息,确保继电器测试数据准确性和可靠性,便于之后对继电器寿命进行预测,根据继电器历史数据,获取继电器寿命预测模型,确保继电器寿命预测的准确性,避免异常数据对模型造成影响,通过继电器寿命预测数据获取关于继电器可靠性的有价值信息,以指导继电器设计和生产,根据继电器测试数据,对继电器生产流程进行调整,为产品设计和改进提供参考。

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