一种测量材料非线性光学性质的系统及方法

专利申请号：CN202210698151.3

公 开 号：CN115128002B

发 明 人：王俊 王梓鑫 陈晨端 董宁宁 

代 理 人：上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)张宁展

代理机构：上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

专利类型：发明专利

申 请 日：20240412

公 开 日：20220620

专利主分类号：G01N21/01

关 键 词：非线性光学性质 光斑 测量 非均匀 共焦显微成像 样品表面形貌 材料非线性 非线性性质 非线性折射 精密平移台 小尺寸样品 测试 测量材料 实时监测 同步测量 同步成像 显微物镜 样品位置 不规则 激发光 微米级 信号光 成像 三维 聚焦 微观 宏观 吸收 应用 

摘      要：本发明提供了一种测量材料非线性光学性质的系统及方法，其中，测量方法是将Z扫描技术和共焦显微成像集成在一起，采用显微物镜进行激发光聚焦、信号光收集、样品表面形貌成像以及光斑同步成像，实现光斑大小的实时监测；使用三维精密平移台控制样品位置，可以实现对微米级样品非线性光学性质的测量。本发明方法可以同步测量材料非线性吸收和非线性折射数据，同时适用于均匀和非均匀、宏观和微观样品的测量，解决了非均匀不规则小尺寸样品非线性性质测试难题，扩展了Z扫描技术的应用及测试范围。