OLED模组测试系统和测试方法

专利申请号：CN201510020115.1

公 开 号：CN104575345A

发 明 人：彭骞 严运思 刘荣华 帅敏 雷新军 沈亚非 陈凯 

代 理 人：黄行军;刘琳

代理机构：42104 武汉开元知识产权代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20150429

公 开 日：20150115

专利主分类号：G09G3/00(20060101)

关 键 词：程控电源 程控信号 模组 连接 上位机 输出端 输入端 待测 多路电源输出 液晶模组测试 多路输出端 不同尺寸 测试方法 测试系统 测试需求 电源输出 独立开关 接口信号 模组测试 一种 兼容 检测 突破 公开 进行 

摘      要：本发明公开了一种OLED模组测试系统和测试方法，其测试系统包括程控信号源、程控电源、上位机以及AC-DC电源，程控信号源的输入端与上位机连接、输出端分别与程控电源的输入端以及待测OLED模组连接，程控电源的多路输出端分别与待测OLED模组连接，AC-DC电源的输出端分别与程控信号源和程控电源连接。本发明同时兼容LVDS、RGB、MIPI、DP四种接口信号，使得本发明能适用于不同尺寸LED模组的测试需求；本发明能提供多路电源输出，且每路电源输出可独立开关调节，突破了传统液晶模组测试系统对OLED模组进行检测的局限性。