咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >基于工业软测量模型的离线化验值双重校正方法 收藏
基于工业软测量模型的离线化验值双重校正方法

基于工业软测量模型的离线化验值双重校正方法

专利申请号:CN200410018393.5

公 开 号:CN1261764C

发 明 人:苏宏业 牟盛静 王长明 古勇 褚健 

代 理 人:张法高

代理机构:33200 杭州求是专利事务所有限公司

专利类型:授权发明

申 请 日:20060628

公 开 日:20040512

专利主分类号:G01N33/00(20060101)

关 键 词:校正 在线模型 化验值 偏差校正 离线 工业软测量模型 测量模型参数 双重校正方法 测量计算 测量模型 成功应用 过程指标 加权处理 理论基础 历史偏差 模型校正 有机结合 预测控制 化验室 滚动 

摘      要:本发明公开了一种基于工业软测量模型的离线化验值的双重校正方法。它利用过程指标的离线化验值,分别以可调的周期校正软测量模型参数和校正软测量计算输出值,使软测量模型预测输出具有良好的精度和趋势。本发明的优点:1)根据在线滚动模型校正和化验值偏差校正技术各自的特点进行有机结合,以充分发挥各自的优点;2)本发明中的化验室偏差校正充分利用了历史偏差信息,对当前的偏差进行加权处理,真实地反映了实际生产过程的连续性和平缓效果;3)本发明提出的在线模型校正很好地借鉴了预测控制技术中的思想,为在线模型校正方法提供了理论基础,也进一步保证了在线模型校正技术能在实际过程中得到成功应用。

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分