基于多个NaI(T1)探测器的放射性物质二维定位方法

专利申请号：CN201510042393.7

公 开 号：CN104536029A

发 明 人：杨剑波 庹先国 王琦标 成毅 刘明哲 王磊 王洪辉 

专利类型：发明申请

申 请 日：20150422

公 开 日：20150128

专利主分类号：G01T1/00(20060101)

关 键 词：探测器 放射性物质 放射性核素 计数探测器 特征峰 定位准确率 测量时间 定位方法 定位误差 二维定位 检测系统 能量分辨 衰减规律 衰减距离 同时定位 方位角 计数值 立体角 涨落 门禁 计数 射线 探测 干扰 

摘      要：本发明公开了一种门禁检测系统中基于多个NaI探测器的放射性物质定位方法。通过测量γ射线的衰减规律和放射性物质在不同位置与探测器方位角的变化，来确定放射性物质二维定位模型。利用NaI探测器的能量分辨能力对放射性核素进行识别，有效地解决了在多源情况下，不同放射性核素之间的相互干扰，以及对多个不同放射性物质进行同时定位的问题。本发明选取计数较大的最大特征峰计数探测器、及其对侧探测器和对侧第二大特征峰计数探测器，有效地避免了当探测器探测面所占放射性物质的立体角过小或衰减距离过大时，探测器的计数值受统计涨落的影响，造成定位误差增大，甚至靠近边缘处无法定位的情况发生。具有测量时间短，定位准确率高等优点。