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一种高光谱成像仪外场光谱辐射定标方法及装置

一种高光谱成像仪外场光谱辐射定标方法及装置

专利申请号:CN201410705891.0

公 开 号:CN104406696B

发 明 人:段依妮 张立福 吴太夏 黄长平 张红明 

代 理 人:北京路浩知识产权代理有限公司李相雨

代理机构:11002 北京路浩知识产权代理有限公司

专利类型:发明专利

申 请 日:20160831

公 开 日:20141127

专利主分类号:G01J3/28(20060101)

关 键 词:外场 光谱辐射 定标 光谱定标 辐射 高光谱成像 辐射定标 中心波长 光谱 偏置 带宽 高光谱成像仪 数据利用效率 外场实验 预设 

摘      要:本发明涉及一种高光谱成像仪外场光谱辐射定标方法及装置,包括:根据实验室光谱辐射定标初值进行第一次外场光谱定标,得到高光谱成像仪的第一中心波长λ1和第一带宽FWHM1;根据第一次外场光谱定标的结果进行第一次外场绝对辐射定标,得到第一次外场绝对辐射定标的增益G1和偏置b1;根据第一次外场绝对辐射定标的结果进行第二次外场光谱定标,得到高光谱成像仪的第二中心波长λ2和第二带宽FWHM2;根据第二次外场光谱定标的结果进行第二次外场绝对辐射定标,得到第二次外场绝对辐射定标的增益G2和偏置b2;循环进行n轮光谱辐射定标直到得到的外场光谱辐射定标结果符合预设阈值。本发明能够有效提高数据利用效率,极大降低外场实验成本,提高外场光谱定标和绝对辐射定标的精度。

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