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一种使用普通颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法
专利申请号：CN201610332778.1
公 开 号：CN106053320A
专利类型：发明专利
申 请 日：20161026
公 开 日：20160518
专利主分类号：G01N15/10(20060101)
关 键 词：校准 激光颗粒计数器 校准结果 正态分布 对数正态分布 颗粒尺寸分布 标准设备 尺寸分布 空间分布 重量分布 准确度 不均匀 放入 自动化 采集 筛选 转换
摘 要：本发明提供了一种使用普通颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法，该使用普通颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法包括以下步骤：放入整体的颗粒尺寸分布服从对数正态分布的颗粒；把颗粒的重量分布转换为尺寸分布；通过激光颗粒计数器采集颗粒的电信号；筛选出电信号正态分布的均数μI；通过均数μI得到校准的电信号。本发明的有益效果是：提高了校准的准确度，排除了标准设备自身的误差以及颗粒在空间分布不均匀对校准结果造成的干扰；其次实现了纯自动化校准，提高校准结果的准确性和校准的效率；同时也降低了校准的成本，实现了提高效率和降低成本的双重目的。
