基于核外电子概率密度分布的复杂曲面零件匹配检测方法

专利申请号：CN201610763863.3

公 开 号：CN106354935A

发 明 人：高亮 李太峰 李新宇 肖蜜 

代 理 人：梁鹏

代理机构：42201 华中科技大学专利中心

专利类型：发明申请

申 请 日：20170125

公 开 日：20160830

专利主分类号：G06F17/50(20060101)

关 键 词：密度分布 核外电子 匹配检测 终止条件 原子核 点云 概率 测量技术领域 非接触式扫描 复杂曲面零件 三维坐标系 非接触式 技术难题 精密加工 模型几何 匹配比较 有效解决 测量点 粗匹配 扫描点 遍历 邻域 匹配 敏感 转换 

摘      要：本发明属于精密加工与测量技术领域，并公开了一种基于核外电子概率密度分布的复杂曲面零件匹配检测方法，包括：对待测零件进行非接触式扫描获得扫描点云，并将其与设计点云组成匹配比较对象；将两片点云转换到同一三维坐标系内，并将各个点看作原子的原子核，将此原子核的邻域点看作核外电子，遍历所有点计算得出其对应的电子概率密度分布值；基于计算得出的电子概率密度分布值确定两个模型的误差，并在当前误差不满足终止条件时对测量点云进行粗匹配和精匹配，直至满足终止条件为止。通过本发明，能够有效解决现有非接触式匹配检测技术中对模型几何结构及初始位置敏感，且易陷入局部最优的技术难题。