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一种声纳目标回波亮点参数的测量方法

一种声纳目标回波亮点参数的测量方法

专利申请号:CN201410134513.1

公 开 号:CN103926581A

发 明 人:赵安邦 何呈 惠娟 周彬 宋雪晶 牛芳 赵智姗 程越 曾财高 马林 

专利类型:发明专利

申 请 日:20140716

公 开 日:20140404

专利主分类号:G01S7/539(20060101)

关 键 词:应答器 回波 目标回波信号 测量端 复数域 发射测量信号 矩阵 测量方法 对接收到 反射因子 声纳目标 声纳探测 时延 变换 

摘      要:本发明涉及一种声纳目标回波亮点参数的测量方法,其特征在于:步骤1:在声纳探测目标上放置N个应答器,N为亮点的个数;步骤2:测量端向目标发射测量信号x(t),测量端位于目标的远场位置;步骤3:测量端分别接收到目标和应答器的回波信号;步骤4:重复步骤2、3,对接收到的目标回波信号和应答器的回波信号做希尔伯特变换,得到复数域信号,即第一次的目标回波信号yt(t),第一次的应答器回波信号yai(t),第二次的目标回波信号yt′(t),第二次的应答器回波信号y′ai(t);步骤5:利用VTRM方法,求得亮点的时延因子τ;步骤6:利用复数域解矩阵的方法,解算出亮点的幅度反射因子A和相位跳变量

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