咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 收藏
自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备

专利申请号:CN201810062053.4

公 开 号:CN108280026A

发 明 人:李翔 王建军 刘欣 

代 理 人:王辉;阚梓瑄

代理机构:11438 北京律智知识产权代理有限公司

专利类型:发明申请

申 请 日:20180713

公 开 日:20180123

专利主分类号:G06F11/36(20060101)

关 键 词:测试脚本 标准数据结构 操作类型 基本模型 控件信息 标准化处理 自动化测试 接口接收 控件 测试 通用 配置 

摘      要:本公开是关于一种自动化测试方法及装置,该方法包括:配置通用SDK接口以及SDK基本模型并利用SDK接口接收包括控件信息数据以及操作类型的待测试脚本;利用SDK基本模型对控件信息数据进行标准化处理得到标准数据结构;根据操作类型运行待测试脚本,并根据标准数据结构定位待测试脚本中的待测试控件。

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分