发光二极管测试机台的自动化装置

专利申请号：CN200510033529.4

公 开 号：CN100445709C

发 明 人：韩金龙 罗会才 杨少辰 

专利类型：授权发明

申 请 日：20081224

公 开 日：20050307

专利主分类号：G01J1/02(20060101)

关 键 词：定位爪组 探针 爪组 测试发光二极管 发光二极管 自动化装置 测试定位 出料结构 进料结构 振动盘 出料 履带 定位测试结构 测试机台 测试结构 传动齿轮 弹性组件 气动推杆 光波 测试组 定位口 定位柱 旋转座 口处 损坏 

摘      要：本发明公开了一种发光二极管测试机台的自动化装置，包括一组进料结构、一定位测试结构及一组出料结构所组成，进料结构包括圆形振动盘及与其相连的平形振动盘、进料爪组及带料爪组，定位测试结构包括置于带料爪组对面的定位爪组，所述定位爪组包括数个定位口，一测试组置于定位爪组正下方，包括测试发光二极管极性的极性探针座、旋转座及测试发光二极管亮度及光波长的框脚探针座，定位爪组上与框脚探针座相对应的测试定位口一端设置有定位柱，出料结构包括传动齿轮及与其相配合的履带，数个出料座卡持于履带上，且在各出料座后方均设置有气动推杆，所述测试定位口处设置有弹性组件。该发明的自动化装置避免了在测试时损坏发光二极管的胶体。