基于概率框架和重测序技术快速发现表型相关基因的方法

专利申请号：CN201510890563.7

公 开 号：CN105404793B

发 明 人：陈新 朱忠旭 王纬韬 

代 理 人：唐银益

代理机构：33212 杭州中成专利事务所有限公司

专利类型：授权发明

申 请 日：20180511

公 开 日：20151207

专利主分类号：G06F19/12(20110101)

关 键 词：测序技术 遗传学研究 概率框架 基因组 表型 正向 表型相关基因 过程建模 过程优化 指标评估 显著性 研究 成功率 样本 发现 基因 评估 优化 分析 

摘      要：本发明公开了一种基于概率框架和重测序技术快速发现表型相关基因的方法，建立了一种基于概率框架的方法，对基于基因组重测序技术的正向遗传学研究过程建模，通过计算四个指标评估研究过程中每一个步骤的设计对研究整体有效性造成的影响，从而指导对当前实验方案和分析方法的优化，达到使用尽可能少的样本，快速发现可能与特定表型相关的基因的目的。首次提出用四个指标来评估基于基因组重测序技术的正向遗传学研究过程的整体有效性，其中方法成功率和非孟德尔表型显著性是创新提出的指标，对于指导整个研究过程优化有重要价值。