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一种高光谱激光雷达目标样品试验装置及方法
专利申请号：CN201510591715.3
公 开 号：CN105137416B
专利类型：授权发明
申 请 日：20180828
公 开 日：20150917
专利主分类号：G01S7/497(20060101)
关 键 词：目标样品 探测器转角 超连续谱 探测装置 载物转台 转角装置 激光源 脉冲式 准直器 二维 回波 多角度信息 探测器支架 半球空间 辐射特性 激光光源 激光雷达 激光探测 晶体光纤 控制中心 脉冲激光 试验装置 收集装置 发散角 高光谱 可调的 宽谱段 微结构 上端 散射 可用 光谱 测量 研究
摘 要：本发明公开了一种高光谱激光雷达目标样品试验装置及方法，其包括：脉冲式超连续谱激光光源；激光源二维转角装置；发散角可调的电调准直器；微结构晶体光纤；载物转台；探测器转角装置；固定在探测器支架上端的回波收集装置；探测装置；连接激光源二维转角装置、电调准直器、探测器转角装置、载物转台、探测装置的控制中心。本发明可以自动并且快速地在半球空间内测量脉冲式宽谱段激光探测条件下目标样品回波的光谱多角度信息，可用于目标样品对超连续谱脉冲激光的散射与辐射特性研究。
