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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
超高分辨micro‑CT分辨率测试方法及其装置
专利申请号：CN201610664132.3
公 开 号：CN106353348A
代 理 人：刘洪勋
代理机构：北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)
专利类型：发明申请
申 请 日：20170125
公 开 日：20160815
专利主分类号：G01N23/04(20060101)
关 键 词：制备 检测分析 分辨率 模体 分辨率测试 重建图像 图形化 一对一 叠加 分辨 精密 判定 测试 便利 采购 检测
摘 要：本发明涉及一种超高分辨micro‑CT分辨率测试方法及其装置，其特点是：包括模体制作，获取分辨率，检测分析。同时，所述检测分析为，对重建图像进行叠加后平均，获取曲线，最终曲线不同的部位对应的分辨率数值。由此，采用较为精简的方式来制备模体，无需到国外采购，制备价格低廉，实施便利。模体的尺寸可以根据测试需要进行一对一制备，提升了检测的精密程度。并且，实施便捷，可直接通过图形化的方式展现结果，便于最终判定。
