一种复合绝缘子内部缺陷的相控阵超声检测装置及方法

专利申请号：CN201410129602.7

公 开 号：CN103901109A

发 明 人：谢从珍 袁超 何子兰 李立浧 张福增 李锐海 

代 理 人：蔡茂略

代理机构：44245 广州市华学知识产权代理有限公司

专利类型：发明申请

申 请 日：20140702

公 开 日：20140331

专利主分类号：G01N29/09(20060101)

关 键 词：复合绝缘子 相控阵 系统主控计算机 超声波信号 相控阵系统 内部缺陷 超声检测装置 相控阵探头 显示仪 处理数据 扫描图像 数据传输 检测 

摘      要：本发明公开了一种复合绝缘子内部缺陷的相控阵超声检测装置，包括：相控阵探头、相控阵显示仪和相控阵系统单元及系统主控计算机。本发明还公开了一种应用于复合绝缘子内部缺陷的相控阵超声检测装置的检测方法，包括如下步骤：步骤1、相控阵探头产生超声波信号，超声波信号遇到复合绝缘子缺陷便发生反射的超声波信号；步骤2、反射的超声波信号传输到相控阵系统单元及系统主控计算机，再将数据传输给相控阵系统单元及系统主控计算机；步骤3、相控阵系统单元及系统主控计算机处理数据后，相控阵显示仪输出相控阵扫描图像；步骤4、确定复合绝缘子内部缺陷的大小、类型及位置。具有能快速、准确和无破坏性地检测出复合绝缘子的内部缺陷等优点。