单片机频率测试系统及方法

专利申请号：CN201711323399.7

公 开 号：CN108037358A

发 明 人：王周宏 吴世华 

代 理 人：谢芝柏

代理机构：44289 深圳市中原力和专利商标事务所(普通合伙)

专利类型：发明申请

申 请 日：20180515

公 开 日：20171212

专利主分类号：G01R23/02(20060101)

关 键 词：计数器 测试频率 基准频率 脚置 单片机频率 测试系统 积分电路 单片机 高阻 计数器位数 测试信号 电平保持 基准信号 高电平 

摘      要：本发明提供一种单片机频率测试系统，包括单片机和积分电路，本发明还提供基于单片机频率测试系统的方法，包括如下步骤：将基准信号和测试信号分别送到基准频率计数器和测试频率计数器，设定基准频率和测试频率；基准频率计数器和测试频率计数器同时开始计数M个周期，基准频率计数器计数到M值，将PW脚置高电平，ADC脚置高阻，积分电路开始工作；测试频率计数器计数到M值，将PW脚置高阻，ADC脚置ADC功能，积分电路电平保持，单片机通过ADC测得代表测试频率与基准频率差值的电压值。与相关技术相比，本发明提供的单片机频率测试系统及方法可以突破单片机速度和计数器位数的限制，提高测试结果的精确度和准确性。