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液晶显示装置及其测试方法
专利申请号：CN201110254100.3
公 开 号：CN102955306B
发 明 人：黄贤军
代 理 人：郑玮
代理机构：31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)
专利类型：授权发明
申 请 日：20151202
公 开 日：20110830
专利主分类号：G02F1/1362(20060101)
关 键 词：液晶显示装置 过孔 数据线开关控制线 数据线测试 测试部分 测试方法 电性测试 减小数据 开关元件 信号延迟 缺陷对 数据线 小尺寸 交叠 一种 消除 占用 公开 减少 保证 生产 进行
摘 要：本发明公开了一种液晶显示装置及其测试方法，所述液晶显示装置消除了数据线测试部分的过孔，从而消除了过孔缺陷对液晶显示装置带来的不利影响，保证电性测试顺利进行；并且，所述液晶显示装置还可减小数据线测试部分占用的面积，有利于生产小尺寸的液晶显示装置；此外，与现有技术相比，本发明减少了与数据线开关控制线交叠的数据线的数量，从而降低了开关元件的开关的信号延迟。
