单粒子效应检测方法和系统

专利申请号：CN201510240840.X

公 开 号：CN104934072A

发 明 人：张战刚 雷志锋 岳龙 恩云飞 

代 理 人：周清华

代理机构：44224 广州华进联合专利商标代理有限公司

专利类型：发明申请

申 请 日：20150923

公 开 日：20150512

专利主分类号：G11C29/44(20060101)

关 键 词：待测器件 单粒子翻转 单粒子 读信息 硬错误 生成 读取 辐照 存储信息 粒子束流 外围电路 预设数据 单粒子效应检测 单粒子效应 瞬态脉冲 信息判定 信息判断 一种 判定 关联 准确 进行 涉及 

摘      要：本发明涉及一种单粒子效应检测方法和系统，所述方法包括读取第一粒子束流辐照下的待测器件的各地址的存储信息，生成第一读信息，并对第一读信息和第一预设数据进行比较，生成第一比信息；若根据所述第一比信息判定所述待测器件内存在单粒子翻转或单粒子硬错误，则读取第二粒子束流辐照后的所述待测器件的各地址的存储信息，生成第二读信息，并对第二读信息和第二预设数据进行比较，生成第二比信息；若根据所述第二比信息判断出所述待测器件内存在单粒子翻转或单粒子硬错误，则判定所述待测器件内的单粒子翻转或单粒子硬错误不是外围电路瞬态脉冲引起的单粒子翻转或单粒子硬错误。实施本发明，可快速、准确地测得单粒子效应与外围电路间关联。