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岩石孔隙结构检测的光反射差装置和方法
专利申请号：CN201610044022.7
公 开 号：CN105717018A
专利类型：发明专利
申 请 日：20160629
公 开 日：20160122
专利主分类号：G01N15/08(20060101)
关 键 词：入射光路 光电信号转换器 信号放大装置 岩石孔隙结构 出射光路 样品台 移相器 数据采集和处理系统 光弹调制器 光电二极管 锁相放大器 聚焦装置 快速精准 装置结构 激光器 光反射 检偏器 起偏器 信噪比 样品池 差法 测量 检测
摘 要：本发明提供一种光反射差法检测岩石孔隙结构的装置，包括入射光路、样品台、样品池、出射光路、信号放大装置和数据采集和处理系统，入射光路包括激光器、起偏器、光弹调制器和移相器，出射光路包括检偏器和光电信号转换器，入射光路还包括设置于移相器和样品台之间的聚焦装置，光电信号转换器为光电二极管，信号放大装置为锁相放大器，本发明的装置结构简单，易于操作，大大提高信噪比，可以对岩石孔隙结构进行快速精准测量。
