一种主轴回转误差实验平台

专利申请号：CN201710794069.X

公 开 号：CN107515112A

发 明 人：陈野 赵相松 张大卫 胡高峰 

代 理 人：杜文茹

代理机构：12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所

专利类型：发明专利

申 请 日：20171226

公 开 日：20170906

专利主分类号：G01M13/00(20060101)

关 键 词：主轴刀柄 检验棒 固定支架 光电传感器支架 位移传感器支架 主轴回转误差 位移传感器 固定设置 固定座 光电传感器 模块化硬件 实验平台 位移状态 系统集成 依次设置 由前至后 圆度误差 转速信息 前部 支撑 研究 

摘      要：一种主轴回转误差实验平台，工作台上由前至后依次设置有位移传感器支架固定座、光电传感器支架、第一固定支架和第二固定支架，第一固定支架和第二固定支架分别支撑待测主轴的前部和后部，待测主轴的前端通过待测主轴的端键固定设置有主轴刀柄，主轴刀柄位于光电传感器支架一侧，且主轴刀柄的前端插入有检验棒，光电传感器支架上对应主轴刀柄设置有用于获取主轴刀柄转速信息的光电传感器，位移传感器支架固定座上对应检验棒固定设置有用于支撑和调整位移传感器位置的位移传感器支架组件，用于获取检验棒位移状态信息的位移传感器位于检验棒的上方。本发明利用高性能的模块化硬件实现全方位的系统集成，完成主轴回转误差与检验棒的圆度误差分离研究。