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智能卡测试装置和测试方法

智能卡测试装置和测试方法

专利申请号:CN201110382045.6

公 开 号:CN102495797A

发 明 人:金银军 刘洋 刘俊 闫永斌 宁振虎 徐兴亮 

代 理 人:栗若木;王漪

代理机构:11262 北京安信方达知识产权代理有限公司

专利类型:发明申请

申 请 日:20120613

公 开 日:20111125

专利主分类号:G06F11/36(20060101)

关 键 词:智能卡 并行处理模块 智能卡应用 服务器应用 服务器 测试装置 主控模块 并行处理 模块和服务器 测试方法 测试效率 应用模块 读卡器 

摘      要:本发明提供了一种智能卡测试装置和应用智能卡测试装置进行的智能卡测试方法,该装置包括主控模块、并行处理模块、智能卡应用模块和服务器应用模块,其中:所述智能卡应用模块,与所述并行处理模块相连,用于为多智能卡的读卡器提供接入接口和为所述多智能卡提供智能卡应用库;所述服务器应用模块,与所述并行处理模块相连,用于为多服务器提供接入接口和为所述多服务器提供服务器应用库;所述并行处理模块,与所述主控模块相连,用于并行处理多智能卡和多服务器的操作;所述主控模块,用于接入所述智能卡应用库和所述服务器应用库。上述智能卡测试装置和方法,支持多接口多服务器并行处理,支持同时进行多应用的智能卡,提高了测试效率。

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