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一种大电流脉冲测试的方法

一种大电流脉冲测试的方法

专利申请号:CN201711293272.5

公 开 号:CN108037436A

发 明 人:夏自金 胡锐 刘健 黄丽芳 马力 袁兴林 李平 包磊 张小六 申林 代松 井文涛 刘永鹏 李政 高鹏 蒋冰桃 

代 理 人:刘安宁

代理机构:52106 贵阳中工知识产权代理事务所

专利类型:发明申请

申 请 日:20180515

公 开 日:20171208

专利主分类号:G01R31/26(20140101)

关 键 词:测试 集成电路功率 大电流脉冲 脉冲激励源 测试器件 功率电压 电流源 电源端 输入端 双路 虚地 驱动器 施加 混合信号测试 测试条件 分立器件 功率器件 器件测试 输出电流 测试法 大电流 占空比 脉冲 集成电路 烧毁 改进 移植 输出 覆盖 应用 

摘      要:一种改进的大电流脉冲测试方法,该方法是在大电流脉冲测试法的基础上进行改进,移植到STS8208混合信号测试系统上进行测试;将测试条件脉冲时间以及占空比设定为某一数值,即可覆盖现有集成电路功率器件输出电流的测试;在测试器件的电源端施加规定电压,在器件输入端提供设定的脉冲激励源,负载采用双路功率电压电流源提供虚地;同样在测试器件的电源端施加规定电压,在器件输入端提供设定脉冲激励源,负载采用双路功率电压电流源提供虚地。本发明从原来只能对分立器件测试拓宽到集成电路功率器件的测试,扩大了应用范围,同时解决了集成电路功率器件测试时容易烧毁器件的问题。适用于集成电路的功率器件、驱动器等输出大电流的测试。

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