基于随机离散时域的继电保护同步性能测试系统及方法

专利申请号：CN201410245287.4

公 开 号：CN103983878A

发 明 人：徐长宝 高吉普 桂军国 王宇 汤汉松 罗强 

代 理 人：董建林

代理机构：32224 南京纵横知识产权代理有限公司

专利类型：发明申请

申 请 日：20140813

公 开 日：20140605

专利主分类号：G01R31/00(20060101)

关 键 词：数据生成模块 发送模块 随机数据 数据发送单元 连接 测试主机 多通道 多晶 随机性 保护设备 测试系统 继电保护 接收单元 离散时域 同步性能 离散性 时域 合并 

摘      要：本发明公开了一种基于随机离散时域的继电保护同步性能测试系统，包括上位机和测试主机，测试主机包括CPU、数据生成模块和若干随机数据发送模块；上位机、CPU、数据生成模块依次顺序连接，数据生成模块连接随机数据发送模块，随机发送模块与被测跨间隔保护设备相连接；数据生成模块包括第一晶振、FPGA和多通道数据发送单元，第一晶振、FPGA和多通道数据发送单元依次顺序相连接；随机数据发送模块包括数据发送单元、接收单元和第二晶振；本发明采用多晶振体系真正意义上实现合并单元输出时域上的随机性和离散性，多晶振体系包括数据生成模块的晶振和随机数据发送模块的晶振。