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一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法
专利申请号：CN201610296613.3
公 开 号：CN105784644A
专利类型：发明专利
申 请 日：20160720
公 开 日：20160508
专利主分类号：G01N21/55(20140101)
关 键 词：全内反射 倒置荧光显微镜 检测 微流控芯片检测 空气净化装置 处理显示器 接收器 加热装置 检测芯片 一机多用 主机箱体 加热室 一体机 风扇 关机 加装 光源 电源
摘 要：本发明公开了一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法，所述使用方法包括，开启主机箱体和处理显示器电源；开启风扇、加热室加热装置、空气净化装置，加装检测芯片，调整全内反射光源及接收器和倒置荧光显微镜，检测、关机。本发明的优点是提供了既能够用全内反射检测方法，又提供了倒置荧光显微镜检测方法，实现一机多用，满足一机联测不同因子的要求。
