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一种基于SignaltapⅡ的FPGA开发板测试方法

一种基于SignaltapⅡ的FPGA开发板测试方法

专利申请号:CN201410404664.4

公 开 号:CN104133174A

发 明 人:柳炳琦 刘明哲 庹先国 成毅 魏丁一 曾柯 

代 理 人:廉红果

代理机构:深圳市合道英联专利事务所(普通合伙)

专利类型:发明申请

申 请 日:20141105

公 开 日:20140815

专利主分类号:G01R31/3167(20060101)

关 键 词:检测 初始化 传统检测方法 测试步骤 显示波形 硬件资源 板测试 绑定 管脚 开发 接触 

摘      要:本发明公开了一种基于SignaltapⅡ的FPGA开发板测试方法,其中所述FPGA开发板包括FPGA芯片,测试步骤如下:(S10)设置一波形初始化文件;(S20)通过FPGA芯片调用IP核生成一个ROM,并将该波形初始化文件存放于该ROM中;(S30)对该ROM的端口进行例化,使之与FPGA芯片的相应信号绑定;(S40)通过Signaltap Ⅱ获取FPGA芯片内信号,显示波形并获得测试结果。本发明构思巧妙,通过简单的设置和操作就能利用Signaltap Ⅱ完成对FPGA开发板的管脚是否接触良好进行检测,不仅检测结果准确,而且相比传统检测方法能够大大减少硬件资源的消耗,并且检测速度快,能够大大缩短检测周期。

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