单芯片的测试装置

专利申请号：CN201711415067.1

公 开 号：CN107942235A

发 明 人：邬江 张楠赓 

代 理 人：任岩

代理机构：11021 中科专利商标代理有限责任公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20180420

公 开 日：20171222

专利主分类号：G01R31/28(20060101)

关 键 词：待测芯片 电源模块 芯片座 信号控制模块 测试 测试装置 工作电压 供电引脚 输出电压 控制电源模块 通用电压 单芯片 容置 芯片 供电 输出 转换 

摘      要：本发明提供了一种单芯片的测试装置，包括：芯片座，用于放置单个待测芯片；电源模块，与所述芯片座相连，用于为所述芯片座供电；以及信号控制模块，用于控制所述电源模块的供电引脚的电平，使得所述电源模块的输出电压由一通用电压转换成各待测芯片的工作电压范围，并对各待测芯片进行测试，输出各待测芯片的测试结果。本发明的芯片座可以容置不同的待测芯片，每次只对一个待测芯片进行测试，排除了其他芯片的干扰。在测试不同工作电压范围的待测芯片时，只需通过信号控制模块控制电源模块的供电引脚的电平，从而调整电源模块的输出电压，操作简单。此外，信号控制模块还兼具了测试待测芯片的功能，使得该测试装置的结构更简洁。